Création de Polymap
Un appareil de mesure de micro-géométrie de surface sans contact, en quelques secondes.
La technique de mesure de Polymap consiste en une miniaturisation du principe de déflectométrie déjà implantée sur des appareils conçus par Holo3. Elle est spécifiquement dédié à la mesure de surface spéculaire (vitrages automobiles). Ce nouvel appareil, développé par Holo3 et l’Institut Charles Sadron, tous deux membres de MICA, effectue une mesure des pentes locales sur la surface analysée (1millions de points sur 1cm²). Cette mesure est ensuite exploitée pour une reconstruction 3D de la surface.
La sensibilité augmentée du procédé permet aujourd’hui la mesure d’empreinte sur polymère de l’ordre du micron et se révèle alors comparable aux mesures obtenues par interférométrie ou profilomètre mécanique. Ce procédé présente, lui, l’avantage d’une mesure effectuée en quelques secondes, sans préparation de l’échantillon ni réglage préalable.
En termes d’application industrielles, la mesure de la rugosité fine ou de microgéométrie sur pièces métalliques usinées est une des principales applications visées. Le caractère spéculaire de ces matériaux est tout particulièrement adapté au principe de mesure et la rapidité, la simplicité de réalisation de la mesure (par rapport à un rugosimètre ou un capteur ponctuel) et la densité de points mesurés en font un outil performant.
Points forts
L’appareil Polymap présente une intégration dédiée à la mesure rapide et à l’intégration dans un laboratoire ou une chaîne de fabrication. Il se présente sous la forme d’une tête de mesure. Le pilotage et l’analyse des résultats se fait par un PC local ou distant. Les fonctionnalités de base permettent l’analyse des résultats (vue 3D, pentes et hauteur des points de la surface) et les résultats obtenus sont facilement exportables en format lisible par d’autres logiciels (nuages de points ASCII).
Analyse qualité
Le principe de déflectométrie s’avère extrêmement avantageux pour l’étude de propriétés optiques de surfaces par sa sensibilité aux caractéristiques de brillance de la surface. En effet une acquisition produit simultanément des images de pente, de relief, et de réflectance, ce qui en fait un procédé adapté à la détection rapide de défaut ou de non homogénéité à l’échelle microscopique.
